43
1
Кантилеверы в принципе слово понятное, даже созвучное, но стоит почитать о чем речь ...
Аксессуары к сканирующим зондовым микроскопам (СЗМ)
СЗМ (Сканирующая Зондовая Микроскопия) – общее название для ряда зондовых микроскопий, включая Атомно-Силовую Микроскопию (АСМ), Сканирующую Туннельную Микроскопию (СТМ), Сканирующую Ближнепольную Оптическую Микроскопию (СБОМ) и др. Принцип работы СЗМ в общем случае заключается в сканировании поверхности образца острийным зондовым датчиком, чье взаимодействие с поверхностью является короткодействующим.
Сканирование производится под управлением контроллера, поддерживающего в процессе сканирования постоянный уровень взаимодействия зонд СЗМ–образец. В этом случае изменение величины управляющего сканированием сигнала контроллера СЗМ отображает рельеф поверхности.
Указанные методики СЗМ для отображения рельефа являются базовыми, однако в процессе сканирования зонды СЗМ могут регистрировать, помимо рельефа, другие характеристики и свойства поверхности. Это могут быть наномеханические, электрические, магнитные и прочие физико-химические параметры.
Дополнительная информация об исследуемой поверхности, помимо рельефа, может быть получена также путем локальных измерений зависимости величины взаимодействия зонда СЗМ с образцом при изменении расстояния СЗМ зонд-образец. Такие методики СЗМ называются «Спектроскопиями» (СТМ Спектроскопии, АСМ Спектроскопии).
Кантилеверы, АСМ зонды, калибровочные решетки, TERS образцы, Высокоориентированный Пиролитический Графит, СБОМ зонды, настольные виброзащиты для атомно-силовых микроскопов, модульные напольные виброзащиты под тяжёлые установки, электронные микроскопы, пассивные виброзащиты для форвакуумных насосов, предназначены для решения исследовательских проблем, научных измерений в медицине, космосе и на военных предприятиях — ТипсНано — ООО "Капелла" ведущий производитель поставщик аксессуаров для нанотехнологических исследований — расходных материалов для СЗМ.
Сканирование производится под управлением контроллера, поддерживающего в процессе сканирования постоянный уровень взаимодействия зонд СЗМ–образец. В этом случае изменение величины управляющего сканированием сигнала контроллера СЗМ отображает рельеф поверхности.
×
×
Указанные методики СЗМ для отображения рельефа являются базовыми, однако в процессе сканирования зонды СЗМ могут регистрировать, помимо рельефа, другие характеристики и свойства поверхности. Это могут быть наномеханические, электрические, магнитные и прочие физико-химические параметры.
Дополнительная информация об исследуемой поверхности, помимо рельефа, может быть получена также путем локальных измерений зависимости величины взаимодействия зонда СЗМ с образцом при изменении расстояния СЗМ зонд-образец. Такие методики СЗМ называются «Спектроскопиями» (СТМ Спектроскопии, АСМ Спектроскопии).
Кантилеверы, АСМ зонды, калибровочные решетки, TERS образцы, Высокоориентированный Пиролитический Графит, СБОМ зонды, настольные виброзащиты для атомно-силовых микроскопов, модульные напольные виброзащиты под тяжёлые установки, электронные микроскопы, пассивные виброзащиты для форвакуумных насосов, предназначены для решения исследовательских проблем, научных измерений в медицине, космосе и на военных предприятиях — ТипсНано — ООО "Капелла" ведущий производитель поставщик аксессуаров для нанотехнологических исследований — расходных материалов для СЗМ.
Источник:
Метки: кантилеверы кантилеверы цена коллоидные зонды продажа расходных материалов для сзм строение микроскопа части микроскопа
Понравился пост? Поддержи Фишки, нажми:
Понравилось
1Новости партнёров
